熱門關鍵詞： 高低溫試驗箱 可程式恒溫恒濕試驗箱 PCT高壓加速老化試驗機 無風烤箱 鹽霧試驗箱
產品(pin)特點：
用(yong)戶可以查看他們希望(wang)查看任何數據
通過(guo)電腦安(an)全便捷的遠程訪問
多層級的敏感數據保護
便捷的程序入口(kou)、試驗設置和產(chan)品監控
試驗數據可以導出為Excel格式并通(tong)過(guo)USB接(jie)口進行傳輸
HAST測試(shi)條件(jian)有130℃、85%RH、230KPa大(da)氣壓，96hour測試(shi)時間。
HAST試驗箱是利用高溫(通常為130 ℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件（達3 atm）來加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封裝的試驗設備，用于評估產品及材料在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。
該試驗檢(jian)查芯(xin)片及其(qi)他(ta)材(cai)料長期貯存條件下(xia)，高溫和時(shi)間對器件的影(ying)響。本規范適用(yong)于量(liang)產芯(xin)片驗證(zheng)測(ce)試階段的HAST測(ce)試需求，僅針對非密封封裝(zhuang)（塑料封裝(zhuang)），帶(dai)偏置（bHAST）和不帶(dai)偏置（uHAST）的測(ce)試。
189-3856-3648
標準設計更安全
內(nei)膽(dan)采用圓弧設計防止結露滴水，符(fu)合國(guo)家安(an)全容(rong)器規范(fan)；
多重保護功能
三道高溫保(bao)護(hu)(hu)裝置、濕(shi)度用(yong)水斷水保(bao)護(hu)(hu)與電熱斷水空焚保(bao)護(hu)(hu)、機(ji)臺(tai)停機(ji)時(shi)自動排(pai)除飽和蒸氣壓力(li)、氣動機(ji)構壓力(li)保(bao)護(hu)(hu)等
穩定性更高
壓(ya)(ya)力值(zhi)采實際感(gan)應偵測(ce)，確(que)(que)保溫度(du)、濕度(du)及(ji)壓(ya)(ya)力值(zhi)準(zhun)確(que)(que)度(du)；
濕度自由選擇
濕度(du)自由選擇飽和（100%R.H濕度(du)）與非飽和（75%R.H濕度(du)）自由設(she)定；
智能化高
支持電腦連接，
利用USB數據、
曲線導(dao)出保存
GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗）
JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（HAST）
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
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